Полупроводников анализ
-
DB-FIB
Въведение в услугата Понастоящем DB-FIB (фокусиран йонен лъч с двоен лъч) се прилага широко в изследвания и проверка на продукти в области като: керамични материали，полимери，метални материали，биологични изследвания，полупроводници，обхват на услугата по геология полупроводникови материали, органични материали с малки молекули, полимерни материали, органични/неорганични хибридни материали, неорганични неметални материали Предистория на услугата С бързото развитие на полупроводниковата електроника и интегралните схеми т... -
Разрушителен физически анализ
Качествените консистенциина производствения процесвелектронни компонентисапредпоставкатаза електронни компоненти, за да отговарят на тяхната употреба и свързаните с тях спецификации. Голям брой фалшиви и обновени компоненти наводняват пазара за доставка на компоненти, подходътза определяне на автентичността на компонентите на рафта е основен проблем, който тормози потребителите на компоненти.
-
Анализ на отказите
Със съкращаването на цикъла на научноизследователска и развойна дейност на предприятието и нарастването на производствения мащаб, управлението на продуктите на компанията и конкурентоспособността на продуктите са изправени пред множество натиск от вътрешни и външни пазари. По време на целия жизнен цикъл на продукта качеството на продукта е гарантирано, а ниският процент на отказ или дори нулевият отказ се превръща във важна конкурентоспособност на предприятието, но също така е предизвикателство за контрола на качеството на предприятието.
